|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| Titel: |
Investigation of process-induced performance variability and optimization of the 10nm technology node Si bulk FinFETs |
| Auteur: |
Baek, Rock-Hyun Kang, Chang Yong Sohn, Chang-Woo Kim, Dae Mann Kirsch, Paul |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 96 (2014) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 10 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |