|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 26 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Study of charge loss mechanisms for nano-sized localized trapping SONOS memory devices |
| Auteur: |
Xu, Yue Yue, Heng Zhao, Fei-Fei |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 91 (2014) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 26 van 26 gevonden artikelen
| << vorige |