|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 13 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
Effect of body bias on negative bias temperature instability in pMOSFET with SiON gate dielectrics |
| Auteur: |
Kim, Hyojune Roh, Yonghan |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 91 (2014) nr. C pagina's 3 p. |
| Jaar: |
2014 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 13 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |