|
A new characterization technique for SOI wafers: Split C(V) in pseudo-MOSFET configuration |
|
|
|
Titel: |
A new characterization technique for SOI wafers: Split C(V) in pseudo-MOSFET configuration |
Auteur: |
Diab, A. Fernández, C. Ohata, A. Rodriguez, N. Ionica, I. Bae, Y. Van Den Daele, W. Allibert, F. Gámiz, F. Ghibaudo, G. Mazure, C. Cristoloveanu, S. |
Verschenen in: |
Solid-state electronics |
Paginering: |
Jaargang 90 (2013) nr. C pagina's 7 p. |
Jaar: |
2013 |
Inhoud: |
|
Uitgever: |
Elsevier Ltd |
Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
|
|
|
|