|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 25 gevonden artikelen
| Titel: |
Correlation between gap state density and bias stress reliability of nanocrystalline TFTs comparing with hydrogenated amorphous silicon TFTs |
| Auteur: |
Lee, M.H. Tai, C.-W. Huang, J.-J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 80 (2013) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2013 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 25 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |