|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
| Titel: |
Understanding device performance by incorporating 2D-carrier profiles from high resolution scanning spreading resistance microscopy into device simulations |
| Auteur: |
Nazir, Aftab Eyben, Pierre Clarysse, Trudo Hellings, Geert Schulze, Andreas Mody, Jay De Meyer, Kristin Bender, Hugo Vandervorst, Wilfried |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 74 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 23 van 24 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |