Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
   volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
 
 
  Accumulation-mode gate-all-around si nanowire nMOSFETs with sub-5nm cross-section and high uniaxial tensile strain
 
 
Titel: Accumulation-mode gate-all-around si nanowire nMOSFETs with sub-5nm cross-section and high uniaxial tensile strain
Auteur: Najmzadeh, M.
Bouvet, D.
Grabinski, W.
Sallese, J.-M.
Ionescu, A.M.
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 74 (2012) nr. C pagina's 7 p.
Jaar: 2012
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 1 van 24 gevonden artikelen
 
   volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland