| |
Factors for the polarization lifetime in metal–ferroelectric–insulator–semiconductor capacitors |
| |
|
|
| |
| Titel: |
Factors for the polarization lifetime in metal–ferroelectric–insulator–semiconductor capacitors |
| Auteur: |
Xiao, Y.G. Xiong, Y. Tang, M.H. Li, J.C. Gu, X.C. Cheng, C.P. Jiang, B. Tang, Z.H. Lv, X.S. Cai, H.Q. He, J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: |
Jaargang 73 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: |
|
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
| |
|
|
| |
|