|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| Titel: |
Amorphous indium–gallium–zinc oxide thin-film transistors instability and stress evaluation by Stretched-Exponential model |
| Auteur: |
Shih, Tsung-Hsiang Fang, Shou-Wei Lee, Jen-Yu Lin, Guan-Yu Chen, Yu-Hung Hsin, Lung-Pao Li, Hsin-Hung Yang, Chin-Wei Chen, Chien-Tao Lu, Hsiung-Hsing Cheng, Kai-Chung Lin, Chih-Yuan Chen, Chia-Yu Yang, Chun-Ming Tsai, He-Ting Lin, Yu-Hsin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 73 (2012) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 18 gevonden artikelen
| volgende >> |