|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization and analysis of electrical trap related effects on the reliability of AlGaN/GaN HEMTs |
| Auteur: |
Berthet, Fanny Guhel, Yannick Gualous, Hamid Boudart, Bertrand Trolet, Jean-Lionel Piccione, Marc Sbrugnera, Vanessa Grimbert, Bertrand Gaquière, Christophe |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 72 (2012) nr. C pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |