|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Modeling and extraction technique for parasitic resistances in MOSFETs Combining DC I–V and low frequency C–V measurement |
| Auteur: |
Shin, Ja Sun Bae, Hagyoul Hong, Euiyoun Jang, Jaeman Yun, Daeyoun Lee, Jieun Kim, Dae Hwan Kim, Dong Myong |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 72 (2012) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 18 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |