|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of velocity saturation and hot carrier effects on channel thermal noise model of deep sub-micron MOSFETs |
| Auteur: |
Ong, S.N. Yeo, K.S. Chew, K.W.J. Chan, L.H.K. Loo, X.S. Boon, C.C. Do, M.A. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 72 (2012) nr. C pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 19 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |