|
| << vorige |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
Two-dimensional carrier mapping at the nanometer-scale on 32nm node targeted p-MOSFETs using high vacuum scanning spreading resistance microscopy |
| Auteur: |
Eyben, Pierre Clarysse, Trudo Mody, Jay Nazir, Aftab Schulze, Andreas Hantschel, Thomas Vandervorst, Wilfried |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 71 (2012) nr. C pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2012 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 21 gevonden artikelen
| << vorige |