|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of drain bias stress on forward/reverse mode operation of amorphous ZIO TFTs |
| Auteur: |
Dey, Aritra Allee, David R. Clark, Lawrence T. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 62 (2011) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |