|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Combined effect of bias and annealing in gamma and neutron radiation assurance tests of SiGe bipolar transistors for HEP applications |
| Auteur: |
Ullán, M. Díez, S. Lozano, M. Pellegrini, G. Knoll, D. Heinemann, B. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 56 (2011) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |