|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 41 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation evaluation of poly-Si TFTs by comparing normal and reverse characteristics and behavior analysis of hot-carrier degradation |
| Auteur: |
Kasakawa, Tomohiro Tabata, Hiroki Onodera, Ryo Kojima, Hiroki Kimura, Mutsumi Hara, Hiroyuki Inoue, Satoshi |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 56 (2011) nr. 1 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2011 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 41 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |