|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Low-temperature characterization and modeling of advanced GeOI pMOSFETs: Mobility mechanisms and origin of the parasitic conduction |
| Auteur: |
Van Den Daele, W. Augendre, E. Le Royer, C. Damlencourt, J.-F. Grandchamp, B. Cristoloveanu, S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 () nr. 2 pagina's 205-212 |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |