|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 39 gevonden artikelen
| Titel: |
Effects of arsenic-ion beam density on defect evolution in polysilicon films |
| Auteur: |
Chen, Lu-Chang Chen, Shang-Fu Wu, Meng-Chyi |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 (2010) nr. 12 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 39 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |