|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 4 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis of subthreshold photo-leakage current in ZnO thin-film transistors using indium-ion implantation |
| Auteur: |
Kamada, Yudai Fujita, Shizuo Hiramatsu, Takahiro Matsuda, Tokiyoshi Furuta, Mamoru Hirao, Takashi |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 54 (2010) nr. 11 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2010 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 4 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |