|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 32 gevonden artikelen
| Titel: |
High-k-oxide/silicon interfaces characterized by capacitance frequency spectroscopy |
| Auteur: |
Raeissi, B. Piscator, J. Engström, O. Hall, S. Buiu, O. Lemme, M.C. Gottlob, H.D.B. Hurley, P.K. Cherkaoui, K. Osten, H.J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 52 (2008) nr. 9 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2008 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 32 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |