Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 7 van 28 gevonden artikelen
 
 
  Electrical instability in self-aligned p-channel polysilicon TFTs related to damaged regions present at the gate edges
 
 
Titel: Electrical instability in self-aligned p-channel polysilicon TFTs related to damaged regions present at the gate edges
Auteur: Rapisarda, M.
Mariucci, L.
Valletta, A.
Pecora, A.
Fortunato, G.
Caligiore, C.
Fontana, E.
Leonardi, S.
Tramontana, F.
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 52 (2008) nr. 3 pagina's 6 p.
Jaar: 2008
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 7 van 28 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland