|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Impact of strain and channel orientation on the low-frequency noise performance of Si n- and pMOSFETs |
| Auteur: |
von Haartman, M. Malm, B.G. Hellström, P.-E. Östling, M. Grasby, T.J. Whall, T.E. Parker, E.H.C. Lyutovich, K. Oehme, M. Kasper, E. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 51 (2007) nr. 5 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |