|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
Capacitance measurements in nanometric silicon devices using Coulomb blockade |
| Auteur: |
Hofheinz, M. Jehl, X. Sanquer, M. Cueto, O. Molas, G. Vinet, M. Deleonibus, S. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 51 (2007) nr. 4 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 20 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |