|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Some issues of hot-carrier degradation and negative bias temperature instability of advanced SOI CMOS transistors |
| Auteur: |
Ioannou, D.P. Ioannou, D.E. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 51 (2007) nr. 2 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2007 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 15 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |