|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 43 gevonden artikelen
| Titel: |
Analysis and understanding of unique cryogenic phenomena in state-of-the-art SiGe HBTs |
| Auteur: |
Liang, Qingqing Krithivasan, Ramkumar Ahmed, Adnan Lu, Yuan Li, Ying Cressler, John D. Niu, Guofu Rieh, Jae-Sung Freeman, Greg Ahlgren, Dave Joseph, Alvin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 50 (2006) nr. 6 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 43 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |