|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Degradation of 1/f noise in short channel MOSFETs due to halo angle induced V T non-uniformity and extra trap states at interface |
| Auteur: |
Ahsan, A.K.M. Ahmed, Shaikh |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 50 (2006) nr. 11-12 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2006 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |