|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical properties of the gate oxide and its interface with Si in U-shaped trench MOS capacitors: The impact of polycrystalline Si doping and oxide composition |
| Auteur: |
Suliman, S.A. Venkataraman, B. Wu, C.-T. Ridley, R.S. Dolny, G.M. Awadelkarim, O.O. Fonash, S.J. Ruzyllo, J. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 47 (2003) nr. 5 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2003 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 30 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |