|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 27 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
The impact of implantation sequence on the characterization of n-MOSFET's with gate oxide grown on nitrogen-implanted Si substrate |
| Auteur: |
Wu, You-Lin |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2002) nr. 8 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 27 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |