|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 7 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
Breakdown and stress-induced oxide degradation mechanisms in MOSFETs |
| Auteur: |
Chen, J.H Wei, C.T Hung, S.M Wong, S.C Wang, Y.H |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2002) nr. 11 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 7 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |