|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 46 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel approach to quantitative determination of charge trapping near channel/drain edge in MOSFETs |
| Auteur: |
Chen, T.P Huang, Jiayi Tse, M.S Zeng, X |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2002) nr. 11 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 46 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |