Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 15 van 46 gevonden artikelen
 
 
  Extraction of deep trap parameters from photocurrent transients by two-dimensional spectral analysis
 
 
Titel: Extraction of deep trap parameters from photocurrent transients by two-dimensional spectral analysis
Auteur: Pawlowski, Michal
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 46 (2002) nr. 11 pagina's 7 p.
Jaar: 2002
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 15 van 46 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland