|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Characterization of interface traps in the subthreshold region of implanted 4H and 6H-SiC MOSFETs |
| Auteur: |
Zeng, Yu (Anne) Softic, Amela White, Marvin H |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 46 (2002) nr. 10 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2002 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |