|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 35 gevonden artikelen
| Titel: |
A recombination- and trap-assisted tunneling model for stress-induced leakage current |
| Auteur: |
Ielmini, Daniele Spinelli, Alessandro S. Lacaita, Andrea L. Martinelli, Andrea Ghidini, Gabriella |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2001) nr. 8 pagina's 9 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 35 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |