|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 12 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Numerical analysis for the effects of interface roughness on the attenuation amplitudes of Fowler–Nordheim tunneling current oscillations in ultrathin MOSFETs |
| Auteur: |
Mao, Lingfeng Zhang, Heqiu Wei, Jianlin Mu, Fuchen Tan, Changhua Xu, Mingzhen |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 () nr. 7 pagina's 1081-1084 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 12 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |