|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
A novel experimental technique: combined gated-diode method for extracting lateral distribution of interface traps in SOI NMOSFETs |
| Auteur: |
He, Jin Zhang, Xing Huang, Ai-hua Huang, Ru |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 () nr. 7 pagina's 1107-1113 |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 23 gevonden artikelen
| volgende >> |