|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 9 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Determination of density and distribution of high-voltage stress-induced traps in O2-, NO- and NO/O2/NO-plasma grown oxides on strained Si |
| Auteur: |
Bera, L.K. Senapati, B. Maikap, S. Maiti, C.K. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2001) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 9 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |