|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 21 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
Numerical analysis for root-mean-square roughness of SiO2/Si interface on direct tunneling current in ultrathin MOSFETs |
| Auteur: |
Mao, Lingfeng Tan, Changhua Xu, Mingzhen |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2001) nr. 3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 21 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |