|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
An improved method for determining the critical energy for interface trap generation of n-MOSFETs under V g=V d/2 stress mode |
| Auteur: |
Mu, Fuchen Mao, Lingfeng Wei, Jianlin Tan, Changhua Xu, Mingzhen |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2001) nr. 3 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 29 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |