|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| Titel: |
Electrical effects of N2 plasma exposure on dry-etch damage in p- and n-GaN Schottky diodes |
| Auteur: |
Kent, D.G Lee, K.P Zhang, A.P Luo, B Overberg, M.E Abernathy, C.R Ren, F Mackenzie, K.D Pearton, S.J Nakagawa, Y |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 45 (2001) nr. 10 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
2001 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 8 van 23 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |