|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Ballistic electron emission microscopy studies of the temperature dependence of Schottky barrier height distribution in CoSi2/n-Si(100) diodes formed by solid phase reaction |
| Auteur: |
Zhu, Shiyang Qu, Xin-Ping Meirhaeghe, R.L.Van Detavernier, C. Ru, Guo-Ping Cardon, F. Li, Bing-Zong |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 44 (2000) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
2000 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 6 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |