Digitale Bibliotheek
Sluiten Bladeren door artikelen uit een tijdschrift
 
<< vorige    volgende >>
     Tijdschrift beschrijving
       Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
         Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
           Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
                                       Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
 
 
  Calculation of the probability of hole injection from polysilicon gate into silicon dioxide in MOS structures under high-field stress
 
 
Titel: Calculation of the probability of hole injection from polysilicon gate into silicon dioxide in MOS structures under high-field stress
Auteur: Samanta, Piyas
Verschenen in: Solid-state electronics
Paginering: Jaargang 43 (1999) nr. 9 pagina's 11 p.
Jaar: 1999
Inhoud:
Uitgever: Elsevier Science Ltd
Bronbestand: Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften
 
 

                             Details van artikel 6 van 23 gevonden artikelen
 
<< vorige    volgende >>
 
 Koninklijke Bibliotheek - Nationale Bibliotheek van Nederland