|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 29 gevonden artikelen
| Titel: |
An investigation into the performance of diffusion barrier materials against copper diffusion using metal-oxide-semiconductor (MOS) capacitor structures |
| Auteur: |
Len, Vee S.C Hurley, R.E McCusker, N McNeill, D.W Armstrong, B.M Gamble, H.S |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 43 (1999) nr. 6 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 29 gevonden artikelen
| volgende >> |