|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 5 van 37 gevonden artikelen
| Titel: |
A simple technique for hot-carrier-induced interface state analysis in thin oxide MOS capacitors |
| Auteur: |
Koukab, A. Hoffmann, A. Bath, A. Charles, J.-P. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 43 (1999) nr. 3 pagina's 4 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 5 van 37 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |