|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 17 van 31 gevonden artikelen
| Titel: |
Measurement of carrier generation lifetime in SOI devices |
| Auteur: |
Shin, Hyungcheol Racanelli, M. Huang, W.M. Foerstner, J. Hwang, Taekeun Schroder, D.K. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 43 (1999) nr. 2 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1999 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 17 van 31 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |