|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 28 gevonden artikelen
| Titel: |
Annealing effects of polycrystalline silicon gate on electrical properties of thin gate oxide |
| Auteur: |
Cho, Won-Ju Kim, Eung-Soo Kang, Jun-Jin Rha, Kwan-Goo Kim, Hong-Seok |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 42 (1998) nr. 4 pagina's 10 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 28 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |