|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| Titel: |
A new approach to investigate gate oxide degradation of MOS capacitors during Fowler–Nordheim stress at low electron fluence |
| Auteur: |
Samanta, Piyas Sarkar, C.K. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 42 (1998) nr. 1 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1998 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Elsevier Science Ltd |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 2 van 27 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |