|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
| Titel: |
Gate-oxide thickness dependence of LDD MOSFET parameters |
| Auteur: |
Hassan, Md.R Liou, J.J Ortiz-Conde, A |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 41 (1997) nr. 8 pagina's 3 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 11 van 22 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |