|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| Titel: |
A study of carrier-trap generation by Fowler-Nordheim tunneling stress on polycrystalline-silicon/SiO2/silicon structures |
| Auteur: |
Jiang, J. Awadelkarim, O.O. Chan, Y.D. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 41 (1997) nr. 1 pagina's 6 p. |
| Jaar: |
1997 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 3 van 21 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |