|
| << vorige | volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 20 van 26 gevonden artikelen
| Titel: |
1 ƒ noise as an electromigration characterization tool for W-plug vias between TiN/AlCu/TiN metallizations |
| Auteur: |
Çelik-Butler, Z. |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 39 (1996) nr. 7 pagina's 5 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 20 van 26 gevonden artikelen
| << vorige | volgende >> |