|
| volgende >> |
Tijdschrift beschrijving
Alle jaargangen van het bijbehorende tijdschrift
Alle afleveringen van het bijbehorende jaargang
Alle artikelen van de bijbehorende aflevering
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| Titel: |
A comparison between plasma charging-damage and inductive-damage: Damage response to Fowler-Nordheim stress |
| Auteur: |
Salah, A Awadelkarim, O.O Werking, J Bersuker, G Chan, Y.D |
| Verschenen in: |
Solid-state electronics |
| Paginering: | Jaargang 39 (1996) nr. 12 pagina's 7 p. |
| Jaar: |
1996 |
| Inhoud: | |
| Uitgever: |
Published by Elsevier B.V. |
| Bronbestand: |
Elektronische Wetenschappelijke Tijdschriften |
Details van artikel 1 van 20 gevonden artikelen
| volgende >> |